{"product_id":"ieej-ip08006","title":"共起ヒストグラムを用いた欠陥画像分類のための周期性評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP08006\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/02\/22\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Periodicity Evaluation using Co-occurrence Histogram Image for Visual Defects Classification\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e林 純一郎(香川大学),伊賀 哲平(香川大学),秦 清治(香川大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eJun-ichiro Hayashi(Kagawa University),Teppei Iga(Kagawa University),Seiji Hata(Kagawa University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e共起ヒストグラム画像|欠陥分類|外観検査|co-occurrence histogram image|defect classification|visual inspection\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,124 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46362094371055,"sku":"IEEJ-IP08006-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_13b44a57-da51-463a-b08c-10acbe531b35.png?v=1743619259","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip08006","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}