{"product_id":"ieej-ip08007","title":"欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法とその応用","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP08007\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/02\/22\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA rotational registration method by using local consistency of point dispersion considering defect types\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e浦野 貴裕(北海道大学),金子 俊一(北海道大学),高氏 秀則(北海道大学),田中 孝之(北海道大学),前田 俊二(日立製作所),渋谷 久恵(日立製作所),吉田 実(日立製作所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakahiro URANO(Hokkaido University),Shun'ichi KANEKO(Hokkaido University),Hidenori TAKAUJI(Hokkaido University),Takayuki TANAKA(Hokkaido University),Shunji MAEDA(Hitachi,Ltd.),Hisae SHIBUYA(Hitachi,Ltd.),Minoru YOSHIDA(Hitachi,Ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003ecolor LCPD|照合|欠陥種別|欠陥点群|ロバスト性|color LCPD|Registration|type|Defect Sets|Robustness\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e788 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46362094469359,"sku":"IEEJ-IP08007-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_04cfe011-abaf-4ab0-86ac-45f29eebfe46.png?v=1743619283","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip08007","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}