{"product_id":"ieej-ip08013","title":"特徴選択とベイズ決定則を利用した欠陥分類","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP08013\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/07\/25\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDefect Classification Using Feature Selection and Bayes Rule\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e堀田 政二(東京農工大学),菊地 啓(東京農工大学),近藤 和樹(東京農工大学),渋谷 久恵(日立製作所),前田 俊二(日立製作所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eSeiji Hotta(Tokyo Univ. of Agri. and Tech.),Kei Kikuchi(Tokyo Univ. of Agri. and Tech.),Kazuki Kondo(Tokyo Univ. of Agri. and Tech.),Hisae Shibuya(Hitachi,Ltd.),Shunji Maeda(Hitachi,Ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e欠陥分類|特徴選択|ベイズ決定則|ポテンシャル関数法|Defect classification|feature selection|Bayes decision rule|potential function method\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e587 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46362093748463,"sku":"IEEJ-IP08013-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_06b2c6b7-aa8d-475f-9ee1-544523c73023.png?v=1743619202","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip08013","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}