{"product_id":"ieej-ip09001","title":"適応型干渉縞解析による微小形状計測","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP09001\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子･情報･システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/02\/20\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAdaptive Analysis Method of Interference Fringes for Nano-level 3-D shape Measurement\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e兼田 昌伸(香川大学),林 純一郎(香川大学),秦 清治(香川大学),石丸 伊知郎(香川大学),森本 茂明(隆祥産業),武田 勝(隆祥産業),岩本 昌克(隆祥産業),小林 宏明(香川県産業技術センター)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMasanobu Kaneda(Kagawa University),Jun-ichiro Hayashi(Kagawa University),Seiji Hata(Kagawa University),Ichiro Ishimaru(Kagawa University),Shigeaki Morimoto(Ryusyo Ind.Co.Ltd.),Masaru Takeda(Ryusyo Ind.Co.Ltd.),Masakatsu Iwamoto(Ryusyo Ind.Co.Ltd.),Hiroaki Kobayashi(Kagawa Prefecture Industrial Technology Center)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e干渉縞|適応型干渉縞解析|組み合わせコードテーブル|Interference fringes|Adaptive analysis method of interference fringes|Code-table\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,281 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46362155909359,"sku":"IEEJ-IP09001-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_e9cf1ec9-a420-4e1e-a78e-0fbc76c11c51.png?v=1743622934","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip09001","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}