{"product_id":"ieej-ip09003","title":"電子部品の生産ラインに適した1台のカメラによるステレオ計測法の提案","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP09003\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子･情報･システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/02\/20\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003e3D Inspection in Electronic Device Production Line by Means of Stereo Method on Single Camera Environment\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e草野 洸(中京大学),藤原 孝幸(中京大学),舟橋 琢磨(中京大学),輿水 大和(中京大学),渡辺 隆(中京大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eAkira Kusano(Chukyo University),Takayuki Fujiwara(Chukyo University),Takuma Funahashi(Chukyo University),Hiroyasu Koshimizu(Chukyo University),Takashi Watanabe(Chukyo University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e画像処理|単眼ステレオ法|基線長|電子部品|Image Processing|Single Camera Stereo Vision|base line length|Electronic Devices\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e937 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46362155974895,"sku":"IEEJ-IP09003-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_f24cb44d-090b-4686-af99-c1a4f259789f.png?v=1743622940","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip09003","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}