{"product_id":"ieej-ip09012","title":"スプライン関数を用いた低コントラスト欠陥検出方法の提案","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP09012\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子･情報･システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/02\/20\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Proposal of a Visual Inspection Method of Detecting Low Contrast Defect Using Spline Function\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e重森 清史(熊本県産業技術センター),菊野 敏博(熊本防錆工業),井上 高宏(熊本大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKiyoshi Shigemori(Kumamoto Industrial Research Institute),Toshihiro Kikuno(KUMAMOTO BOUSEIKOUGYO CO,.LTD.),Takahiro Inoue(Kumamoto University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e画像処理|外観検査|スプライン関数| 遺伝的アルゴリズム|image processing|visual inspection|spline function|geometric algorithm\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,045 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46362156335343,"sku":"IEEJ-IP09012-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_cafdeb34-42b0-4ee4-9fdf-dcf83ea02ef2.png?v=1743622981","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip09012","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}