{"product_id":"ieej-ip12020","title":"単眼視ステレオ計測によるリード形状認識性能の評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP12020\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2012\/08\/24\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003ePerformance evaluation of geometry recognition for Terminal lead using Single Stereo Vision\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e草野 洸(中京大学),舟橋 琢磨(中京大学),渡辺 隆(仙台高等専門学校),輿水 大和(中京大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003ekusano akira(Chukyo University),funahashi takuma(Chukyo University),watanabe takashi(Sendai National College of Technology),koshimizu hiroyasu(Chukyo University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e製品検査|ステレオ計測|電子部品|Product Inspection|Stereo Vision|Electronic Device\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e電子部品のはんだ付け性を保証するには，PCBに対するリードの位置を把握することが重要であり，コプラナリティを管理することが一般的である．しかし，表面実装後の剥離強度低下の問題を防止するためには，PCBに対するリード浮き量の検査に加えて，形状を認識することも必要となってくる．本稿では，単眼視ステレオ計測を用いた，リードの形状認識を含むコプラナリティ検査システム提案し，実験による性能評価の結果を報告する．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,301 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 4","offer_id":46362664960239,"sku":"IEEJ-IP12020-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_4a2a9df5-d01c-4775-878c-afb003c76f8e.png?v=1743635034","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip12020","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}