{"product_id":"ieej-is06048","title":"モデルによるシステムテスト開発環境の再利用とその適用","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIS06048\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報システム研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/12\/08\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eReuse of System Testing Development Environments with a Model\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e古田 裕久(三菱電機),石原 艦(三菱電機),山岡 孝行(三菱電機),中田 秀男(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHirohisa Furuta(Mitsubishi Electric Corporation),Akira Ishihara(Mitsubishi Electric Corporation),Takayuki Yamaoka(Mitsubishi Electric Corporation),Hideo Nakata(Mitsubishi Electric Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eシステム開発|システムテスト開発|MDA|UML|テスト駆動開発|モデル|再利用|品質\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,093 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46361697288431,"sku":"IEEJ-IS06048-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a1fd12ea-9aba-4510-be2b-6a8ec0eaedc6.png?v=1743612553","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-is06048","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}