{"product_id":"ieej-is07001","title":"高精度低電圧スイッチトボルテージサンプルホールド回路　　","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIS07001\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報システム研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/04\/20\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eHigh accuracy Low-Voltage Switched-Voltage Sample\/Hold Circuit\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e大野 憲司(宮崎大学),松本 寛樹(宮崎大学),村尾 健次(宮崎大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKenji OHNO(University of Miyazaki),Hiroki MATSUMOTO(University of Miyazaki),Kenji MURAO(University of Miyazaki)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eスイッチトボルテージ|サンプルホールド|低電圧|クロックフィードスルー|チャネル長変調効果|switched-voltage|sample\/hold|low voltage|clock feedthrough|channel-length modulation effect\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e278 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46361887539439,"sku":"IEEJ-IS07001-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_72c6ab89-ff4a-46c5-890c-eb4c2219304a.png?v=1743615583","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-is07001","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}