{"product_id":"ieej-mag08097","title":"オンチップ磁性薄膜の特性評価用TEGチップの試作","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eMAG08097\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　マグネティックス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/07\/31\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA TEG chip for evaluation of on-chip magnetic thin-film\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e増田 則夫(日本電気)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eNorio Masuda(NEC Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e磁界|高周波電流|90nmプロセス|磁性薄膜|位相同期回路|電磁環境両立性|ディープウェル|評価用素子|集積回路|QFP|ループアンテナ|信号品質|電源配線|magnetic field|high-frequency current|90nm process|magnetic thin-film|phase-locked loop|electromagnetic compatibili\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,027 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46372875763951,"sku":"IEEJ-MAG08097-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_9bed42aa-41a9-4854-9393-aa5bebb0da60.png?v=1744003989","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-mag08097","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}