{"product_id":"ieej-mag09143","title":"Dahle型渦電流プローブを用いた導体板の下に置かれた導体小品の形状の可視化","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eMAG09143\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎･材料･共通部門　マグネティックス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/10\/30\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEddy Current Imaging of conductive samples hidden by a thick conductive plate\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e児玉 慶太(九州大学),笹田 一郎(九州大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKeita Kodama(Kyushu University),Ichiro Sasada(Kyushu University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e非破壊検査|渦電流探傷法|Dahle型プローブ|導体板裏面|傷の形状|画像処理|ウィーナーフィルタ|Non-destructive test|eddy-current test|Dahle-probe|hidden by a conducting plate|shape of a crack|image processing|Wiener filter\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,525 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46372921934063,"sku":"IEEJ-MAG09143-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_ac90dbf4-0924-4df4-8e38-e443f5ca7822.png?v=1744005835","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-mag09143","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}