{"product_id":"ieej-mag14102","title":"Fe基アモルファス薄帯の標準磁気特性試験法に関する検討 -回送試験の中間報告-","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eMAG14102\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2014\/07\/30\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eStudy on Standard Measurement Method of Magnetic Property of Fe-based Amorphous Strip - Interim Report of Round Robin Test -\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e田中 雅也(同志社大学),渡壁 竜(同志社大学),髙橋 康人(同志社大学),藤原 耕二(同志社大学),石原 好之(同志社大学),東 大地(日立金属)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTanaka Masaya(Doshisha University),Watakabe ryu(Doshisha University),Takahashi Yasuhito(Doshisha University),Fuziwara Koji(Doshisha University),Ishihara Yoshiyuki(Doshisha University),Azuma Daichi(Hitachi Metals,Ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eＦｅ基アモルファス薄帯|ＩＥＣ規格化|単板磁気特性試験器（ＳＳＴ）|Ｈコイル法|励磁電流法|回送試験（ＲＲＴ）|Fe-based amorphous strip|IEC standardization|single sheet tester (SST)|H-coil method|magnetizing current method|round robin test (RRT)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eFe基アモルファス薄帯（アモルファス）は地球環境問題の解決に向けた変圧器の高効率化の要求に伴い、近年その使用量が増加している．現在，アモルファス材料の規格化がIEC\/TC68において検討されているが、材料特性の規格化には特性測定法の規格化が必要となる。我々はアモルファス磁性材料用単板磁気測定器を製作し、国際回送試験を行っている。本稿ではこれまでに得た知見を紹介するとともに国内回送試験について報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eInternational standardizations concerning Fe-based amorphous strip are necessary in the electrical industries with the demand for higher efficiency transformers. Efforts to achieve pertinent standards are progressing in the IEC technical committee 68. Especially, measurement standards for the magnetic properties must be established before the material standard.  We designed a single sheet tester for amorphous strip (AM-SST) based on the results of experiments, and an domestic round robin test of amorphous strips with this AM-SST is proceeding．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,158 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46385061167343,"sku":"IEEJ-MAG14102-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_903ad82b-1804-4d8e-81ef-0e177b61a5e2.png?v=1744334087","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-mag14102","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}