{"product_id":"ieej-mag14106","title":"磁性薄膜実装LTE級RFICチップ内の電磁ノイズ結合経路の推定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eMAG14106\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2014\/08\/07\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEstimation of electromagnetic noise coupling in LTE-class RFIC chip integrated with magnetic thin film\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e樊 鵬(東北大学),室賀 翔(東北大学),田中 聡(東北大学),東 直矢(神戸大学),島崎 俊介(神戸大学),永田 真(神戸大学),山口 正洋(東北大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eFan Peng(Tohoku University),Muroga Sho(Tohoku University),Tanaka Satoshi(Tohoku University),Azuma Naoya(Kobe University),Shimazaki Shunsuke(Kobe University),Nagata Makoto(Kobe University),Yamaguchi Masahiro(Tohoku University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e携帯電話システム|磁性薄膜|デジタルノイズ|スプリアス|電磁界解析|強磁性共鳴|mobile phone system|magnetic thin film|digital noise|spurious|electromagnetic field simulation|ferromagnetic resonance\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eLTE級RFICのTEGチップにおけるオンチップ結合を定量化するため，オンチップ結合解析モデルおよび回路解析環境を構築し，電磁界・回路解析を通してオンチップ配線・空間を介したノイズ結合量を解析した。また，解析の結果と実測の結果を比較し，本解析の妥当性を確認した。これらの検討を通して，オンチップ配線中の主たるノイズ結合経路を推定した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eA test element group (TEG) integrated with magnetic thin film has been developed, and the 2.1 GHz band noise suppression of 10 dB was successfully obtained. A electromagnetic field and circuit diagnosis system has been constructed in order to evaluate the electromagnetic noise coupling in a LTE-class RFIC receiver. The noise current occurred in the inductors of LNA were calculated by means of electromagnetic field simulation. Then the spurious generated in the output I\/Q signal of RF receiver chain was calculated by circuit simulation. The simulated spurious suppression level of 11.5 dBm agreed with the measurement value of 10 dBm in LTE band 1 at 2.1 GHz. It was estimated that 63% of the noise in the chip was coupled by the on-chip wires, and on-chip noise coupling can be suppressed 27 dB by using magnetic film.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,723 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46385063592175,"sku":"IEEJ-MAG14106-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_fa656861-5487-4d46-ba15-6129a1ed4315.png?v=1744334179","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-mag14106","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}