{"product_id":"ieej-mag14192","title":"磁性フォトニック結晶を用いた磁気光学イメージングによる欠陥の深さ評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eMAG14192\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2014\/12\/12\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEstimation of defect depth by magneto-optical imaging using magnetophotonic crystal\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e米澤 拓臣(豊橋技術科学大学),橋本 良介(豊橋技術科学大学),坂口 一灯(豊橋技術科学大学),高木 宏幸(豊橋技術科学大学),後藤 太一(豊橋技術科学大学),遠藤 久(日立製作所),井上 光輝(豊橋技術科学大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYonezawa Takumi(Toyohashi University of Technology),Hashimoto Ryosuke(Toyohashi University of Technology),Sakaguchi Kazuto(Toyohashi University of Technology),Takagi Hiroyuki(Toyohashi University of Technology),Goto Taichi(Toyohashi University of Technology),Endo Hisashi(Hitachi Research Laboratory),Inoue Mitsuteru(Toyohashi University of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e磁気光学イメージング|磁性フォトニック結晶|非破壊検査|Magneto-optical imaging|Magnetophotonic crystal|Non-destructive inspections\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e表面欠陥の高速な非破壊検査の一つに、欠陥近傍の漏洩磁界を可視化する磁気光学(MO)イ メージングがある。この手法では漏洩磁界の大きさに依存してMO膜の偏光面回転角の変化を、MO像のコントラストから取得することで深さ評価を可能にする。しかし、この手法で深さ評価を行う為には、高コントラストなMO膜が必要である。そこで高コントラストでMOイメージング可能な膜構造を設計し、欠陥深さ評価を行った結果について報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eMagneto-optical imaging, which visualizes the distribution of leakage magnetic fields from defect, is one of the methods for high speed non-destructive inspection. However, it is difficult to estimate with high accuracy the depth of defect. Thus, we designed a magnetophotonic crystal which has large Faraday rotation angle. In addition, we examined high accuracy estimation method of defect depth from its optical property.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e890 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 5","offer_id":46385069424879,"sku":"IEEJ-MAG14192-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_d5b4e7c6-1b93-4f56-9953-5b9de6b4dc07.png?v=1744334356","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-mag14192","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}