{"product_id":"ieej-mbe10129","title":"誤り関連電位に基づく誤り検出と信頼度に基づく自動再送要求との組み合わせによるP300 speller の性能向上に関する検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eMBE10129\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 医用・生体工学研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2010\/09\/23\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Study on Combination of Reliability-based Automatic Repeat reQuest with Error Potential-based Error Correction for Improving P300 Speller Performance\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e高橋 弘武(名古屋大学),吉川 大弘(名古屋大学),古橋 武(名古屋大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakahashi Hiromu(Nagoya University),Yoshikawa Tomohiro(Nagoya University),Furuhashi Takeshi(Nagoya University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e4,220 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 4","offer_id":46376712798447,"sku":"IEEJ-MBE10129-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_3a9ddecc-3cc4-4739-bdbb-b1bd0479dc1d.png?v=1744112939","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-mbe10129","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}