{"product_id":"ieej-mbe19010","title":"Ｆｒａｃｔａｌ　ａｎａｌｙｓｉｓ　ｔｏ　ｄｅｔｅｃｔ　ｅｐｉｌｅｐｔｉｃ　ｓｅｉｚｕｒｅ　ｉｎ　ＥＥＧ．","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eMBE19010\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 医用・生体工学研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2019\/03\/22\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eFractal analysis to detect epileptic seizure in EEG.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003eUpadhyaya Prajna(東京工業大学),八木 透(東京工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003ePrajna Upadhyaya(TOKYO INSTITUTE OF TECHNOLOGY),Tohru Yagi(TOKYO INSTITUTE OF TECHNOLOGY)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eEpilepsy|Seizure|EEG|Dynamics|Decomposition|Classification\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本研究では、脳波信号のフラクタル次元を決定することによっててんかん発作を検出することを目指しています。本研究では、てんかん発作中とてんかん発作がない場合のてんかん性脳内の複雑性の変化を比較します。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eIn this research we aim to detect the epileptic seizure by determining the fractal dimension of the electroencephalography signals. This study provides the comparison of change in the complexity of an epileptic brain during the epileptic seizure and in the absence of epileptic seizure.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e英語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,100 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46390796255471,"sku":"IEEJ-MBE19010-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_309c47d4-5b6d-43f1-b800-a8abd218da55.png?v=1744604016","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-mbe19010","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}