{"product_id":"ieej-oqd07011","title":"高速タイムドメイン　オプティカル　コヒーレンストモグラフィー","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eOQD07011\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　光・量子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/02\/06\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eHigh-Speed Time Domain Optical Coherence Tomography\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e佐藤 学(山形大学),渡部 裕輝(山形大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eManabu Sato(Yamagata University),Yuuki Watanabe(Yamagata University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e光波断層画像測定法|直交位相干渉|ワイドフィールド|鉛直断層画像|非走査|optical coherence tomography|quadrature fringes|wide field|en-face sectional image|non-scanning\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e768 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46393599656175,"sku":"IEEJ-OQD07011-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_ace5560b-ac7e-4c8e-8aa7-253f80defeae.png?v=1744699818","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-oqd07011","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}