{"product_id":"ieej-pi16042","title":"欠損部の検出を考慮した３次元全周形状計測システム","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003ePI16042\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 知覚情報研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2016\/09\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003e3D Shape Measurement System with Defects Detection\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e浮田 浩行(徳島大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHiroyuki Ukida(Tokushima University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eデジタルアーカイブ|３次元形状復元|３Ｄスキャナ|全周形状|部分形状の統合|欠損部|digital archives|3D shape reconstruction|3D scanner|whole shape|integraton of partial shapes|defects\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本論文では，デジタルアーカイブ用に物体の全周形状を得るための３次元形状復元方法について検討する．ここでは，異なる視点から計測された部分形状の統合方法について提案する．しかし，統合された形状には，穴や欠け等の欠損が含まれる場合がある．そこで，自動的に欠損部を検出し，その部分を再計測する方法についても提案する．３Ｄスキャナを用いた実験によって，３次元形状計測における提案手法の有効性が示された．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eWe discuss a 3D shape reconstruction method to obtain a whole shape of an object for the digital archive. We propose an integration method of partial shapes measured from different view points. But, the integrated shape often includes defects such as holes or chips. So, we also propose defects detection and re-measurement method. From experiments, we can show the effectiveness of our proposed method.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,207 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 5","offer_id":46359803461871,"sku":"IEEJ-PI16042-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_1717cfd4-1355-4458-96a9-f3427413965f.png?v=1743496747","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-pi16042","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}