{"product_id":"ieej-pi17083","title":"周辺領域の［肌状態の違い］に着目した局所特徴ベクトルの提案","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003ePI17083\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 知覚情報研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2017\/09\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eProposal of local feature vector focusing on the differences among neighboring ROI's.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e武藤 功樹(中京大学),松原 琢磨(中京大学),輿水 大和(中京大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKoki Muto(CHUKYO UNIVERSITY),Takuma Matsubara(CHUKYO UNIVERSITY),Hiroyasu Koshimizu(CHUKYO UNIVERSITY)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e外観検査|金属表面|プリント基板|機械学習|Visual inspection|Metal surface|PCB|Machine Learning\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e検査対象部品において代表的である半導体のウェハやプリント基板等は．表面のテクスチャが常に一定であり画像検査システム(2値化，モルフォロジー処理等)を開発することが比較的容易である．しかし，複雑なテクスチャを持つ製品では前述するような検査システムでは対応が難しい．そこで，我々は周辺領域の［肌状態の違い］に着目し，従来の検査システムでは対応が難しいテクスチャにも耐えうる外観検査手法を提案する．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eIt is difficult to cope with the product surface inspections with complicated textures by using the conventional procedures such as basic binarization, morphology processing, etc.Then we propose a new local features which were sensitive to the differences among neighboring ROI’s and experimented successfully how the proposed features were effective.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e894 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 5","offer_id":46359824957679,"sku":"IEEJ-PI17083-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_6161766a-153a-4ffd-b6d2-66cae8983827.png?v=1743497191","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-pi17083","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}