{"product_id":"ieej-pst05045","title":"ミリ波非破壊検査技術の開発とシミュレーション研究","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003ePST05045\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/06\/30\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDevelopment and Simulation Study of Nondestructive Testing Technology Using Millimeter Waves\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e北僚 仁士 内田 直人  西依 幸一郎 間瀬 淳(筑波大学, 九州大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHitoshi Hojo Naoto Uchida(University of Tsukuba) Koichiro Nishiyori Atsushi Mase(Kyushu University)()\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e非破壊検査,異物検査,ミリ波,超短パルス,計算機シミュレーション\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　プラズマ研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e887 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46359707287791,"sku":"IEEJ-PST05045-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_da98fbf2-f1b3-4d68-b048-f8823e235e8c.png?v=1743492680","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-pst05045","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}