{"product_id":"ieej-pst08015","title":"シャンティングアーク放電プラズマの構造解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003ePST08015\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　プラズマ研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/01\/26\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSpatial diagnostics of Shunting Arc Discharge Plasma\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e松本 陽栄(佐賀大学),三沢 達也(佐賀大学),大津 康徳(佐賀大学),藤田 寛治(佐賀大学),行村 建(同志社大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYoei Matsumoto(Saga University),Tatsuya Misawa(Saga University),Yasunori Ohtsu(Saga University),Hiroharu Fujita(Saga University),Ken Yukimura(Doshisha University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eシャンティングアーク放電|静電プローブ法|ダブルプローブ法|Shunting arc discharge|Langmuir probe method|Double probe method\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e587 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46359331602671,"sku":"IEEJ-PST08015-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_8c90c907-2dc9-44ea-80ba-84b9966ef80a.png?v=1743476870","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-pst08015","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}