{"product_id":"ieej-pst08058","title":"周波数シフトプローブの電子温度計測への応用","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003ePST08058\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　プラズマ研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/10\/31\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eApplication of frequency shift probe for electron temperature measurements\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e張祺 (中部大学),中村 圭二(中部大学),菅井 秀郎(中部大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eZhang Qi(Chubu university),K. Nakamura(Chubu university),H. Sugai(Chubu university)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e周波数シフトプローブ，電子密度，スリット幅，シース効果Frequency shift probe| Electronic temperature| Slit width| Sheath effets\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eThis paper reports on sheath effects on resonance frequencies on frequency shift (FS) probes, and application of the probes for electron density measurements. The sheath effects were investigated by electromagnetic field analysis with FDTD simulation, and\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e522 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46359334453487,"sku":"IEEJ-PST08058-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_af595961-e39c-45c8-b0ef-0471fd19e109.png?v=1743477046","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-pst08058","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}