{"product_id":"ieej-sp18060","title":"小型多孔電極における電界積分値と絶縁破壊特性の関係","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eSP18060\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【B】電力・エネルギー部門 開閉保護研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2018\/11\/03\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eRelationship between Electric Field Integral Value and Vacuum Breakdown Characteristics in Small  Electrode with Multi-apertures\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e大倉 徹也(埼玉大学),西山 真史(埼玉大学),山納 康(埼玉大学),小島 有志(量子科学技術研究開発機構),柏木 美恵子(量子科学技術研究開発機構)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTetsuya Okura(Saitama University),Masashi Nishiyama(Saitama University),Yasushi Yamano(Saitama University),Atsushi Kojima(National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology),Mieko Kashiwagi(National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eＪＴ－６０ＳＡ|負イオン源|真空|絶縁破壊電界|電界積分値|JT-60SA|Negative Ion Source|Vacuum|Breakdown electric field|electric field integral value\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e臨界プラズマ試験用装置JT-60SAにおける負イオン源加速電極の耐電圧向上に関し，加速電極における孔周辺で絶縁破壊が発生することが問題となっている。本研究では，設計指標として電界積分値に着目し，イオン源加速電極を模擬した多孔電極のような不平等電界領域を有する電極の電界積分値を用いることで絶縁破壊電界との関係を調査した。その結果，電界積分値の増加によって電界増倍係数は増加し，それに対応して絶縁破壊電界は低下することが明らかとなった。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eFor the critical plasma test equipment JT-60SA, vacuum electric breakdowns around the apertures are a serious problem for developing the high energy and high power negative ion source accelerator. To improve the high voltage performance of the accelerator, we investigated the relation of a breakdown electric field in vacuum to the electric field integral value of electrode’s surface for the multi-apertures electrode.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e英語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e2,470 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 5","offer_id":46390780461295,"sku":"IEEJ-SP18060-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a95a0778-7b01-4818-9966-78009afa1e21.png?v=1744603285","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-sp18060","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}