{"product_id":"ieej-spc08074","title":"電力変換装置における半導体デバイスの簡易損失・温度計算方法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eSPC08074\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】産業応用部門　半導体電力変換研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/06\/07\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003ePower Loss and Temperature Calculation of IGBT Modules\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e高久 拓(富士電機デバイステクノロジー),五十嵐 征輝(富士電機デバイステクノロジー),宮坂 忠志(富士電機デバイステクノロジー)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTaku Takaku(Fuji Electric Device Technology),Seiki Igarashi(Fuji Electric Device Technology),Tadashi Miyasaka(Fuji Electric Device Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e損失計算|熱設計|過渡熱抵抗|負荷サイクル|シミュレーション・ツール|loss calculation|thermal design|transient thermal resistance|load cycle|simulation tool\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,092 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 10","offer_id":46372904894703,"sku":"IEEJ-SPC08074-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_5cbd79bc-a505-44e1-8c07-4ac07a47cf2e.png?v=1744005172","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-spc08074","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}