{"product_id":"ieej-spc09117","title":"TDRによる電圧依存性のキャパシタンス測定法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eSPC09117\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】産業応用部門　半導体電力変換研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/10\/29\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Method for Measuring Voltage Dependant Capacitance Using TDR System\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e有賀 善之介(首都大学東京),和田 圭二(首都大学東京),清水 敏久(首都大学東京)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eZen Ariga(Tokyo Metropolitan University),Keiji Wada(Tokyo Metropolitan University),Toshihisa Shimizu(Tokyo Metropolitan University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e回路パラメータ|等価回路|TDR|MOSFET|Circuit parameter|equivalent circuit|TDR|MOSFET\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e795 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46372958306543,"sku":"IEEJ-SPC09117-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_f63d4ee2-b1c7-4fce-a7e3-fb6cd26975f2.png?v=1744007058","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-spc09117","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}