{"product_id":"ieej-spc15019md15019","title":"MOSFETを対象とした非破壊短絡試験装置設計と実験検証","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eSPC15019,MD15019\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】産業応用部門 半導体電力変換\/【D】産業応用部門 モータドライブ合同研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2015\/01\/23\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDesign and Experimental Verifications of Non-Destructive Test Circuit of Si-MOSFET for Short-Circuit Test\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e平田 晃介(首都大学東京),和田 圭二(首都大学東京)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKosuke Hirata(Tokyo Metropolitan University ),Keiji Wada(Tokyo Metropolitan University )\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e短絡試験|ＭＯＳＦＥＴ|非破壊試験装置|Short-Circuit test|MOSFET|Non-Destructive experiment equipment\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eパワーデバイスの信頼性向上は重要な課題である。課題の解決方法として，実際の回路動作維持における破壊過程を知ることが挙げられる。そのための装置として，非破壊試験装置の検討が行われ，パワーデバイスの短絡試験状況下での動作が報告されている。_x000D_\n本研究ではSi-MOSFETを対象に短絡試験装置の設計手法を明らかにして，さらに実験により非破壊で破壊直前の挙動を観測した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eNon-Destructive experiment equipment is used to observe behavior of_x000D_\njust before breakdown of power devices without any destruction. The short_x000D_\ncircuit test directed at Si-MOSFET is conducted by using the equipment, and the behavior of just before destruction is observed. In order to prevent_x000D_\nthe destruction of the MOSFET, a design procedure of the test circuit should be discussed.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e2,053 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46393333350639,"sku":"IEEJ-SPC15019MD15019-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a17c9ac4-55f9-498a-b7aa-05d989fe25b8.png?v=1744688408","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-spc15019md15019","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}