{"product_id":"ieej-spc20235hca20085vt20090","title":"直流400-V系統への適用を目的としたSiC-JFETを並列接続した半導体遮断器の電流分担","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eSPC20235,HCA20085,VT20090\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】産業応用部門 半導体電力変換\/【D】産業応用部門 家電・民生\/【D】産業応用部門 自動車合同研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2020\/12\/11\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eCurrent sharing in solid-state circuit breakers with parallel-connected SiC-JFETs for 400-V DC systems\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e髙森 太郎(東京都立大学),和田 圭二(東京都立大学),齋藤 渉(九州大学),西澤 伸一(九州大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTaro Takamori(Tokyo Metropolitan University),Keiji Wada(Tokyo Metropolitan University),Wataru Saito(Kyushu University),Shin-ichi Nishizawa(Kyushu University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e４００－Ｖ直流系統|直流遮断器|ＳｉＣ－ＪＦＥＴ|ゲート駆動回路|並列接続|400-V DC systems|DC circuit breaker|gate drive circuit|parallel-connection|SiC-JFET\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e近年，従来の機械式遮断器に替わり，長期信頼性に優れた半導体遮断器が検討されている。とりわけ車載品においては，パワーデバイスの並列接続による電流容量定格の強化，定常損失の低減が不可欠である。しかし，電流遮断時におけるデバイス間電流分担は，個々のデバイスの絶縁破壊電圧差に依存する。本稿では，提案するゲートドライバを用いて1.2-kV耐圧SiC-JFETの並列接続時における電流分担を直流400-Vの実機実験において検証する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eThis paper presents a gate drive circuit for the current balancing of parallel-connected SiC-JFETs. The gate drive circuit can achieve the current balance equalization of parallel-connected SiC-JFETs under avalanche mode. The validity of the proposed gate drive circuit is verified by the experiment that uses 1.2-kV SiC-JFETs in a 400-V system. Furthermore, repetitive current break tests are conducted, and the effect of repeated use of proposed method on the long-term reliability of the circuit breaker is verified based on the evaluation of the characteristic degradation.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,239 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46393291112687,"sku":"IEEJ-SPC20235HCA20085VT20090-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_967a549c-c3c7-432e-b327-6ae298ae39ec.png?v=1744687047","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-spc20235hca20085vt20090","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}