{"product_id":"ieej-zt001006","title":"エリート戦略および並列GAを用いた境界要素法クラック同定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-006\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2000\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eNon-Destractive Testing by Boundary Element Method using Elitism and Paralled GA\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e武本 秀行(関西大学),松浦 淳(関西大学),安田 陽(関西大学),原 武久(関西大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHideyuki Takemoto(Kansai University),Jun Matsuura(Kansai University),Yoh Yasuda(Kansai University),Takehisa Hara(Kansai University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e遺伝的アルゴリズム|エリート戦略|並列 GA|移住|直流ポテンシャル法|境界要素法\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e造物中に存在するクラックを非破壊検査で検出するために、最適化手法の一種である遺伝的アルゴリズム（以下 GA）が検討されている。GAは大域的に探索するアルゴリズムであることから、局所探索力が弱いということが挙げられる。本研究では計算時間の短縮のため、ソルバに境界要素法（以下BEM）を採用した。 また、GAには収束速度の高速化を考慮して、エリート戦略および並列化モデルを用いてクラックの同定を行った。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e93 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395506655471,"sku":"IEEJ-ZT001006-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_f47c334d-12dc-4316-883a-931d2279b0a8.png?v=1744774202","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt001006","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}