{"product_id":"ieej-zt001057","title":"自己混合半導体レーザによる物体の外形測定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-057\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2000\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eContour Measurement of an Object Using Self-Mixing Laser Diode\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e石川 直之(静岡大学),川合 克法(静岡大学),篠原 茂信(静岡大学),吉田 博文(静岡大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eNaoyuki Ishikawa(Shizuoka University),Katsunori Kawai(Shizuoka University),Shigenobu Shinohara(Shizuoka University),Hirofumi Yoshida(Shizuoka University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e半導体レーザ|自己混合|距離計|外形測定\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本研究室で研究している自己混合型半導体レーザ距離速度計を用いた距離画像計測装置を使用して、短時間で物体の外形が識別できることを実証した。すなわち、従来の距離画像計測から物体の奥行き情報を捨てることで奥行き情報の精度にかかわらず、各測定ポイントで物体が存在するかどうかは判別できるため、物体の外形を知ることができる。以前と同程度の解像度（11[cm]×11[cm]の測定範囲で1038点）で、計測時間は6.7秒から5.0秒に短縮された。さらに、新たな物体の判別方法を用いることで測定の精度が向上し、以前と同程度の\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e64 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395509997807,"sku":"IEEJ-ZT001057-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_9fc59e31-25c9-45fb-9a9b-f5498f66b881.png?v=1744774485","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt001057","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}