{"product_id":"ieej-zt001119","title":"大電流真空アークの残留プラズマの計測","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-119\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2000\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eMeasurement of residual plasma of a high-current vacuum arc\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e武志 幸広(日本工業大学),新井 一由(日本工業大学),丹羽 芳充(東芝),森宮 脩(日本工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYukihiro Takeshi(Nippon Institute of Technology),Kazuyoshi Arai(Nippon Institute of Technology),Yoshimitu Niwa(TOSHIBA),Osami Morimiya(Nippon Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e真空アーク|残留プラズマ|プローブ|実験\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e荷電粒子密度1×10^18(1\/m^3)程度の希薄プラズマの絶縁破壊は真空遮断器の極限性能を支配する基本的な現象である。実験は静電プローブ法で残留プラズマ中の電子温度とプラズマ密度を測定した。測定は(1)電極半径方向分布(2)アーク電流零直前勾配と(3)アーク電流ピーク波高値への依存性について行った。電子温度は2～3(eV)一定であった。プラズマ密度は10^18(1\/m^3)オーダーで電極中心部の密度が濃く電極端へ近付く程薄い。さらに零直前勾配が大きく、ピーク波高値が高い程密度が濃かった。測定はアーク電流\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e56 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395514159343,"sku":"IEEJ-ZT001119-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_fbd26626-8e81-4e7f-9920-0df6bb44ed89.png?v=1744774826","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt001119","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}