{"product_id":"ieej-zt002037","title":"劣化末期段階における部分放電発生位相角特性に及ぼす周波数の影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-037\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2000\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eInfluence of frequency on partial discharge occurrence phase angle characteristics at last stage of degradation \u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e古森郁尊 (鳥羽高専),匹田政幸 (九州工業大学),鈴置保雄 (名古屋大学),水谷照吉 (名古屋大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eフミタカ (Toba National College),マサユキ (Kyusyu Institute of Technology),ヤスオ (Nagoya University),テルヨシ (Nagoya University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e部分放電|絶縁劣化診断|CIGRE Method-II|電源周波数|ポリイミド\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e筆者らは、部分放電発生位相角特性(PDパターン)に注目した絶縁劣化診断システムの検討を行っている。この中で、CIGRE Method-II(CM-II)電極系にて、いわゆる、カメ型あるいはウサギ型PDパターンにおける印加電圧周波数の影響を報告してきた。今回、PDパターンが群小化の傾向を示した状態（劣化末期）において、印加電圧周波数がPDパターンへ及ぼす影響についての検討を行った。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e84 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395528184047,"sku":"IEEJ-ZT002037-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_968f738e-8867-4956-8629-a929e6441bf0.png?v=1744776115","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt002037","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}