{"product_id":"ieej-zt002053","title":"直鎖状低密度ポリエチレンの絶縁特性に与える架橋の影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-053\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2000\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEffect of cross-linking on the dielectric properties of linear low-density polyethylene\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e小野 裕永(早稲田大学),荒岡 誠(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHironaga Ono(Waseda University),Makoto Araoka(Waseda University),Yoshimichi Ohki(Waseda University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e直鎖状低密度ポリエチレン|絶縁特性|架橋\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e直鎖状低密度ポリエチレンの絶縁特性に与える架橋の影響について実験とその結果の考察を行った。破壊電界は、３０℃においては未架橋試料の方が高くなり、９０℃においては架橋試料の方が高くなった。これは、３０℃においては架橋によって結晶成長が妨げられ、結晶化度が低下したために架橋試料の方が破壊電界は低下し、逆に９０℃においては架橋による機械強度の上昇により、架橋試料の方が破壊電界は高くなったと考えられる。電界-電流特性については、室温では架橋試料の方が電流値は高く、９０℃では電界の上昇とともに未架橋試料の方が電流値は高くなった。これらは絶縁破壊電界値特性と対応している。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e60 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395529298159,"sku":"IEEJ-ZT002053-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_5a60f515-6392-47cb-b75e-8f1a41848fdb.png?v=1744776206","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt002053","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}