{"product_id":"ieej-zt002094","title":"不平等電界下におけるポリイミドＬＢ超薄膜の耐電界特性","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-094\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2000\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eElectrostatic properties of ultra-thin polyimide Langmuir-Blodgett films under non-uniform electric field\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e福澤 雅弘(九州産業大学),寶満 竜太(九州産業大学),山下 宏(九州産業大学),岩本 光正(東京工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMasahiro Fukuzawa(Kyuusyuu Sanngyou University),Ryuuta Houmann(Kyuusyuu Sanngyou University),Hirosi Yamasita(Kyuusyuu Sanngyou University),mitumasa Iwamoto(Tokyo Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eポリイミド|LB膜|絶縁材料|絶縁破壊\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e　金属?絶縁体界面での静電気現象は電気、電子工学の分野において大変興味深いものである。そこで本研究では、針?平板電極（Al、Au、Ag）系において熱処理を施した、ポリイミドＬＢ膜を作製し試料とした。試料に直流電圧を破壊するまで印加し、表面電位の測定を行った。また、温度依存性の測定も行った。そして、この測定結果をもとにポリイミドＬＢ膜における絶縁破壊現象の主因は、ポリイミドＬＢ膜作製時に電極界面近傍に蓄積される電荷であると考察した\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e68 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395531919599,"sku":"IEEJ-ZT002094-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_c7ec098b-6cfb-4a2d-acd2-525c5f0997bc.png?v=1744776441","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt002094","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}