{"product_id":"ieej-zt005192","title":"走査型ホール素子法を用いたメートル級銀シースBi系2223相超電導テープの非破壊診断","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e5-192\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2000\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eNon-destructive evaluation of Ag-sheathed Bi2223 tapes using a scanning Hall sensor method\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e坂元 周作(豊橋技術科学大学),張平祥 (豊橋技術科学大学),太田 昭男(豊橋技術科学大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eShusaku Sakamoto(Toyohashi University of Technology),P.X. Zhang(Toyohashi University of Technology),Akio Oota(Toyohashi University of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e銀シースBi系2223相超電導テープ|非破壊診断|ホール素子\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e感磁面積50×50[μm]の微小ホール素子を超電導テープ表面上で二次元的に走査させ、磁場分布を測定できる装置を開発した。この装置を用いて、残留磁場下にある１ｍ級超電導テープの表面磁場を測定した。その結果と、直流四端子法によって決定された臨界電流から系統的に超電導テープの評価をおこなった。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e96 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395592900847,"sku":"IEEJ-ZT005192-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a5aba3c8-0a40-41e9-a9ec-34ce9159680b.png?v=1744780723","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt005192","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}