{"product_id":"ieej-zt006248","title":"真空遮断器における大電流遮断時のアノードの温度分布","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-248\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2000\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eThe Temperature Distribution of Anode along The Cntact Depth during The High Currnt Interruption in The Vacuum Interrupter\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e丹羽 芳充(東芝),佐藤純一 (東芝),横倉 邦夫(東芝),染井 宏通(東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYoshimitsu Niwa(Toshiba corporation),Junichi Sato(Toshiba corporation),Knio Yokokura(Toshiba corporation),Hiromichi Somei(Toshiba corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e真空バルブ|真空遮断器|アノード|真空アーク\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e真空遮断器での大電流遮断時のアノード接点の温度変化を解析により検討した。解析は１次元で、接点表面にアークによるエネルギーが入力されるとし、接点の溶融、蒸発を考慮した。接点の深さ方向の温度分布の時間変化を検討した結果、正弦半波電流を遮断した場合の接点表面の温度変化、溶融、接点内部への熱伝導の様子を把握することが出来た。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e118 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395624489199,"sku":"IEEJ-ZT006248-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_7f8025e3-aa80-4c3f-ade9-33d384272197.png?v=1744782629","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt006248","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}