{"product_id":"ieej-zt011010","title":"ニューラルネットワークを用いた直流電位差法による欠陥位置同定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-010\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2001\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDC Potential Non-Destructive Testing using　Neural Network\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e坂下 泰史(関西大学),加島 和久(関西大学),山本 博一(関西大学),原 武久(関西大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYasushi Sakashita(Kansai University),Kazuhisa Kashima(Kansai University),Hirokazu Yamamoto(Kansai University),Takehisa Hara(Kansai University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e非破壊検査|ニューラルネットワーク|直流電位差法|有限要素法\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e非破壊検査の一つである直流電位差法は試料に直流電流を通電し、その試料表面の電位分布から欠陥の位置、形状を同定する方法である。本報告では、200mmx200mmの導体板試料表面の欠陥を同定することを試みた。診断手法としてはニューラルネットワーク（以下NN）を用いた。NNは生物の脳を数学的に模擬したものであり、多くのデータを学習させることで未学習のデータでも汎化能力により妥当な出力を得ることができる。本報告ではNNを直流電位差法に適用して欠陥同定を行った。また、有限要素法による電位解析より求めた電位情報でNN\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e94 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395657027823,"sku":"IEEJ-ZT011010-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_ec6cde99-0581-4542-9910-3877bc3f89fe.png?v=1744784328","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt011010","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}