{"product_id":"ieej-zt011241","title":"ＰＩＮダイオード内高速キャリア挙動の赤外レーザによる計測","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-241\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2001\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eMeasurements of transient carrier-density in PIN-diode by infrared laser \u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e松本 康寛(東京工業大学),前田 直人(東京工業大学),井深 真治(東京工業大学),安岡 康一(東京工業大学),石井 彰三(東京工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYasuhiro Matsumoto(Tokyo Institute of Technology),Naoto Maeda(Tokyo Institute of Technology),Shinji Ibuka(Tokyo Institute of Technology),Koichi Yasuoka(Tokyo Institute of Technology),Shozo Ishii(Tokyo Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e赤外レーザ|キャリア密度|パワーデバイス\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eパワーデバイスは電力、エネルギー分野における新しいエネルギー利用形態であるパルスパワー分野において注目を集めている。パワーデバイスは、高速、大電流パルスを制御する素子として使用されている。パルスパワ?応用ではパワーデバイスのＯＮ特性が重要である。ここで、大電力パワーデバイスの極限ＯＮ特性を把握することを目標とし、本研究ではその評価方法として赤外レーザによるＰＩＮダイオード内のキャリア挙動を測定した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e87 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395688354031,"sku":"IEEJ-ZT011241-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a239fa41-5a4d-47a9-9347-714655403d78.png?v=1744785575","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt011241","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}