{"product_id":"ieej-zt012151","title":"ｎ-ヘキサン含浸によるXLPEにおけるトリー抑制","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-151\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2001\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eThe Suppression of Electrical Tree by n-Hexane Impregnation in XLPE\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e鈴木 豪(名城大学),村井 純(名城大学),清水 教之(名城大学),縄田 正人(名城大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakeshi Suzuki(Meijo University),Jun Murai(Meijo University),Noriyuki Shimizu(Meijo University),Masahito Nawata(Meijo University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eフリーボリューム|電子加速|電子衝突|液体含浸\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e電気トリー発生についての検討は電力ケーブルの長期信頼性向上のためには必要不可欠な課題である。トリー発生機構の一つとして電気絶縁材料中に注入され加速された電子が分子鎖と衝突しラジカルを生成、自動酸化反応により放電可能な空隙を形成しトリー発生に至るというものがよく知られている。本研究では電子加速を妨げる目的でXLPEに含まれるフリーボリュームにｎ?ヘキサンを含浸させトリー発生抑制にどのような効果があるか検討した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e107 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395722236143,"sku":"IEEJ-ZT012151-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_88f945a8-8887-4245-9934-b29063daa84d.png?v=1744786860","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt012151","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}