{"product_id":"ieej-zt016215","title":"超音波とダイオード転流回路を用いた低圧開閉器の接触不良検出","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-215\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2001\/03\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDetection of Poor Contacting on Low Voltage Switch Circuit by Ultrasonic Wave and Diode Commutation Circuit\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e原 英喜(名古屋工業大学),中村 光一(名古屋工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHideki Hara(Nagoya Institute of Technology),Koichi Nakamura(Nagoya Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e低圧開閉器|超音波|ダイオード転流回路|接触不良検知\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eThis paper presents a detection method of poor contacting of low voltage switch in the normal current state under the legal scheduled inspection. This is an unique method using ultrasonic wave and a diode commutation circuit.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e105 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395852062959,"sku":"IEEJ-ZT016215-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_d036c7d6-e708-4e8b-bdb8-efa60f28b79a.png?v=1744792596","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt016215","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}