{"product_id":"ieej-zt023015","title":"GaN系青色発光ダイオードの(低速)パルス動作による劣化","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e3-015\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2002\/03\/26\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDegradation of GaN type Blue emitting diodes under Pulse Operations\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e柳澤 武(産業技術総合研究所),小島 猛(産業技術総合研究所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakeshi Yanagisawa(AIST),Takeshi Kojima(AIST)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e発光ダイオード|パルス通電|劣化|寿命\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e高輝度GaN系青色発光ダイオードのパルス及び連続動作による通電劣化加速試験を行い、寿命推定した結果を述べる。パルス動作では連続に比べて、2～4倍長寿命になることがわかった。また、パルス幅依存性があり、高速ほど寿命が延びることがわかった。これらの違いは接合温度に関連する。パルス動作では、35,000時間以上の半減値寿命が推定された。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e158 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46395954233583,"sku":"IEEJ-ZT023015-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_f9e92e7c-fa68-406f-af52-566c3e29d7e1.png?v=1744797059","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt023015","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}