{"product_id":"ieej-zt023029","title":"ベンチマークテスト問題としての Picture Logic","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e3-029\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2002\/03\/26\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003ePicture Logic as a Benchmark Test Problem\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e佐藤泰司 (山口大学),水上 嘉樹(山口大学),田中 幹也(山口大学),奈良 宏一(茨城大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTaiji Satoh(Yamaguchi University),Yoshiki Mizukami(Yamaguchi University),Kanya Tanaka(Yamaguchi University),Koichi Nara(Ibaraki University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003ePicture Logic|ベンチマークテスト|Simulated Annealing\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003ePicture Logic とは指定された条件を満たすようにセルを塗りつぶすパズルの一種であり、塗りつぶされたセルが絵になるというものである。ここでは、このパズルが組合せ計画問題のベンチマークテスト問題と成り得るか否かの基礎的な検討を行い、少なくとも、Simulated Annealing 法に関しては易しい問題や困難な問題を作ることができることを示した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e237 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46395954921711,"sku":"IEEJ-ZT023029-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_c9f3175c-6476-41bb-abe5-9d4a94011686.png?v=1744797108","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt023029","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}