{"product_id":"ieej-zt024248","title":"配電盤の保守点検用携帯型汚損度チェッカー","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-248\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2002\/03\/26\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003ePollutant Deposition Sensor for Insulators in High-Voltage Apparatuses\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e上山 智嗣(三菱電機),廣辻 淳二(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eSatoshi Ueyama(Mitsubishi Electric Corp.),Junji Hirotsuji(Mitsubishi Electric Corp.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e汚損度|塩分|高電圧設備|絶縁破壊\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e配電盤表面の絶縁破壊事故予防保全において、塩分やごみによる汚損度の計測は重要であるが、大変な労力を必要とする。そこで効率的に保守業務を行うため、簡単で精度よく測定できるチェッカーが求められている。今回、汚損度を迅速簡単に測定できる携帯型チェッカーを業界で初めて開発した。ヘッド部を被測定表面に押し当て、ここに形成される微小定容積内に特殊な溶解液を注入し、表面の固着汚損物質を迅速に溶解させて、液導電率を測定する。これにより、従来15分掛かっていた汚損度を90秒以内で再現性よく測定できるようになった。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e223 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46396033106159,"sku":"IEEJ-ZT024248-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_13f4c72d-619c-4ba1-b93c-7ad206ca1d61.png?v=1744799361","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt024248","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}