{"product_id":"ieej-zt026172","title":"分電盤用配線用遮断器の開閉回数に対する残留電流の起きる確率","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-172\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2002\/03\/26\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eProbability of Post Arc Current for Number of Switching Operation of MCB\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e藤堂 文孝(東京電機大学),柳父 悟(東京電機大学),荒井 聰明(東京電機大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eFumitaka Todo(Tokyo Denki University),Satoru Yanabu(Tokyo Denki University),Satoaki Arai(Tokyo Denki University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e分電盤用配線用遮断器|残留電流\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e住宅用分電盤用配線用遮断器（以下、MCBという）の性能向上を目的としている。前回までの実験で残留電流が数百μs流れることを確認した。それらは開閉回数を重ねるごとに起こりやすくなった。そこで，新品のMCBを用いて遮断実験を行い開閉回数を数え現象が起こる確率を求めたので報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e275 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46396199207151,"sku":"IEEJ-ZT026172-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_dd5efab2-c6b3-4c16-b99e-d99542e76de2.png?v=1744801956","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt026172","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}