{"product_id":"ieej-zt027057","title":"ポリマーがい管の加速劣化試験に関する検討（その2）","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e7-057\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2002\/03\/26\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eThe consideration about aging test on the Composite Hollow Insulators(2)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e熊井 俊哉(中部電力),鈴木 淳史(中部電力),岸田 良二(三菱電機),越野 幸広(日本ガイシ),坂西 健治(日本ガイシ),内海 雄介(日本ガイシ)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eToshiya Kumai(Mitsubishi Electric Corporation),Atsushi Suzuki(Mitsubishi Electric Corporation),Ryoji Kishida(Mitsubishi Electric Corporation),Yukihiro Koshino(NGK Insulators,LTD.),Kenji Sakanishi(NGK Insulators,LTD.),Yusuke Utsumi(NGK Insulators,LTD.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eポリマーがい管|シリコーンゴム|加速劣化試験|FT?IR\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e筆者らはポリマーがい管について、フィールド試験品と加速劣化試験品を対比することで寿命評価を行うことを計画している。これまで、加速劣化試験方法について検討を行い、IEC61109 Annex?Cに準拠した手法にて加速劣化試験を行うこととした。また、外被の劣化検出方法として、FT?IRを用いることとした。今回は加速劣化開始後1000時間および2000時間経過した試料において、FT?IRによる分析を行った結果について報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e344 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46396251537647,"sku":"IEEJ-ZT027057-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_87878f5f-ba3a-4d93-9719-2c4ac67b6530.png?v=1744802857","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt027057","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}