{"product_id":"ieej-zt031161","title":"GAによる電磁波ノイズ放射源の探索：基本的概念","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-161\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2003\/03\/17\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eThe Search of Electromagnetic Radiation Noise Source by Genetic Algorithm : Basic Concepts\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e末吉 賢司(九州工業大学),趙孟佑 (九州工業大学),林 克一(ナスコ)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKenji Sueyoshi(Kyushu Institute of Technology),Mengu Cho(Kyushu Institute of Technology),Katsuichi Hayashi(NUSCO Co.Ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e遺伝的アルゴリズム|逆問題|FDTD法|電磁界解析|電磁ノイズ|EMC\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e近年、電子機器は電磁ノイズに対して弱体化が進み、電磁ノイズからの干渉を受けやすくなっている。産業現場において、FA機器を代表とする多くの電子機器が用いられており、それらの機器システムが相互に干渉を受けて、誤作動を引き起こす恐れがある。そこで、電磁両立性EMC技術が重要になっている。本研究では、産業現場における電磁環境のマッピングを行えるツールの開発を最終目的として研究を行なっている。本稿では、電磁ノイズ放射源の場所と形状を数カ所の測定により得られた電磁界分布データから推定する逆問題を対象とする。私達は逆問題解析プログラムを構築した。また実際に数値実験を行い、その有効性を確認した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,410 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46396303311087,"sku":"IEEJ-ZT031161-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_ddc7c725-8f51-429f-9414-c360217dd5cc.png?v=1744804290","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt031161","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}