{"product_id":"ieej-zt031189","title":"ツェナー標準電圧発生器の絶縁抵抗測定法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-189\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2003\/03\/17\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Measurement Method of Insulation Resistance of Zener Voltage References\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e西中 英文(産業技術総合研究所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHidefumi Nishinaka(NMIJ,National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eツェナー標準電圧発生器|絶縁抵抗|Y-Δ変換高抵抗測定ブリッジ|低抵抗\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e現在、計測器や電圧計の校正には、ツェナー標準電圧発生器が広く用いられているが、このツェナー標準電圧発生器の校正値には、測定端子とケース間の絶縁抵抗が不確かさの一因として影響してくる。一般に、絶縁抵抗は極めて高い抵抗であるためその測定は容易ではなく、また、高い抵抗標準が必要となる。このため、低抵抗を用いて、10GΩ～100TΩまでの任意の値を、測定精度1%で校正可能な、Y-Δ変換高抵抗測定ブリッジ（特願2002-315162)を考案したので、その測定法について発表する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,406 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46396312092911,"sku":"IEEJ-ZT031189-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_da424f2c-ba12-4260-8454-60ac076ae387.png?v=1744804567","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt031189","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}