{"product_id":"ieej-zt032030","title":"ピット発生における印加電圧の影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-030\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2003\/03\/17\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEffects of the applied voltage on pit generating\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e服部 昇(武蔵工業大学),江原由泰 (武蔵工業大学),岸田 治夫(武蔵工業大学),伊藤泰郎 (武蔵工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eNoboru Hattori(Musashi Institute of Technology),Yoshiyasu Ehara(Musashi Institute of Technology),Haruo Kishida(Musashi Institute of Technology),Tairo Ito(Musashi Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e電気トリー|ピット|群小部分放電|印加電圧\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003ePMMAブロックを用いて絶縁材料内に模擬ボイドを作成し、実験を行った。高分子絶縁材料に対して部分放電の発生によりトリーイング劣化が発生することが知られているが、その前駆現象としてトリーとは劣化形状の異なる極微小の劣化(ピット)の発生することがある。しかし、このピットの発生要因については群小部分放電の影響などが検討されているが未だ確立されたものではない。そこでピットの発生要因及び伸展に着目し、印加電圧変化との関連性を検討した。11kVから15kVの間の電圧を用いて実験を行ったところ、印加電圧が低いほうがピットの発生率が高く、またピットからトリーへの移行へ時間を要することが分かった。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e146 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46396319826159,"sku":"IEEJ-ZT032030-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_57b6304c-50a4-45c4-9ac7-67514fd12f5e.png?v=1744804893","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt032030","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}