{"product_id":"ieej-zt032181","title":"一様渦電流プローブによる溶接部の探傷試験について","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-181\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2003\/03\/17\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eFlaw Testing of Wedl Zone by Uniform Eddy Current Probe\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e小山 潔(日本大学),星川 洋(日本大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKiyoshi Koyama(Nihon University),Hiroshi Hoshikawa(Nihon University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e非破壊試験|渦電流探傷試験|溶接部検査|渦電流|漏洩磁束\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e雑音が小さく従来の渦電流探傷センサープローブに比べてSN比高くきず検出を行える一様渦電流センサープローブを用いた溶接部の探傷実験を行った。実験の結果、溶接部の縦きずと横きずを走査方向に対するプローブの向きを変えることなくSN比高く検出できる。また、縦きずについては一様な渦電流の変化を、横きずについては漏洩磁束を検出して探傷することを確認した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e224 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46396343025903,"sku":"IEEJ-ZT032181-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_ffd59193-2261-4ceb-a0b8-5253eae5a834.png?v=1744805762","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt032181","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}