{"product_id":"ieej-zt034255","title":"二等辺三角形近似によるステレオ計測のサブピクセル推定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-255\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2003\/03\/17\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSub-Pixel Estimation on Stereo Analysis by Isosceles Triangle Approximation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e藤原 伸行(明電舎),庭川 誠(明電舎),恩田 寿和(明電舎)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eNobuyuki Fujiwara(MEIDENSHA CORPORATION),Makoto Niwakawa(MEIDENSHA CORPORATION),Toshikazu Onda(MEIDENSHA CORPORATION)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eステレオ計測|サブピクセル推定|対応点探索|領域相関法\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e我々はこれまでに、２台のカメラで工業部品の位置同定を行うステレオ計測について、対応間違えを排除することにより複数の計測点で構成する対象物の高精度な位置計測を行う方法を提案してきた。本編ではさらに進めて、１点ごとの計測精度向上を目的とするステレオ対応点座標のサブピクセル推定について、二等辺三角形近似による新しい手法を提案する。一般的に使用されている放物線近似による手法に比べて計算式が簡単で、シミュレーションにより計算精度の評価を行った結果、相関値の変化が急峻な場合を含め常に0.1画素以下の精度で対応点座標を計算できることを確認した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e887 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46396425535727,"sku":"IEEJ-ZT034255-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_8ab87dbb-5e73-4973-9d21-dc1b81cca198.png?v=1744808271","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt034255","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}