{"product_id":"ieej-zt037146","title":"集積型薄膜太陽電池モジュールの評価法:ライン光励起によるI-V測定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e7-146\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2003\/03\/17\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEvaluation Method for Integrated Thin-film Solar Module:Line-Light Induced Current-Voltage Measurement \u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e柳澤 武(産業技術総合研究所),小島 猛(産業技術総合研究所),小柳 理正(産業技術総合研究所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakeshi Yanagisawa(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology),Takeshi Kojima(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology),Tadamasa Koyanagi(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e太陽電池|評価・診断手法|ライン光測定|品質スクリーニング|太陽モジュール\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eライン光を用いた光励起によるI-V測定から、多段集積型薄膜太陽電池モジュールの性能の面内均一性や局部的な異常の検出を行う手法を提案するとともに、CIS系太陽モジュールによる評価例を報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e402 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46396537503983,"sku":"IEEJ-ZT037146-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_ff8c9238-9788-452d-9694-d8d620957766.png?v=1744812199","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt037146","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}